Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Physical Measurement and Analysis of Thin Films | Libri antichi e moderni | Murt, E.M., Guldner, W.G., Ed.
Libri antichi e moderni
Murt, E.M., Guldner, W.G., Ed.
Plenum Publishing,
1969
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Physical Measurement and Analysis of Thin Films | Libri antichi e moderni | Murt, E.M., Guldner, W.G., Ed.
Libri antichi e moderni
Murt, E.M., Guldner, W.G., Ed.
Plenum Publishing,
1969
18,80 €
(Lexington,
Stati Uniti d'America)
Metodi di Pagamento
- PayPal
- Carta di Credito
- Bonifico Bancario
- Pubblica amministrazione
- Carta del Docente
Dettagli
- Anno di pubblicazione
- 1969
- Luogo di stampa
- New York
- Autore
- Murt, E.M., Guldner, W.G., Ed.
- Editori
- Plenum Publishing
- Formato
- 23.75 cm.
- Edizione
- First Edition
- Soggetto
- Science
- Stato di conservazione
- Buono
- Lingue
- Inglese
- Legatura
- Rilegato
- Prima edizione
- True
Descrizione
- Hardcover, good condition, w. ltly compressed spine. badly bumped r. top corner, 3 ltly bumped corners. Damp stain on r. brd. Creaky fr. hinge. Ltly tanned p. edges, eps. clean, tight, unmarked. Dj good, some lt soil, somewhat rubbed. Ltly tanned sp. da
ISBN: B000FML0N4
